Pусский  |
RSSW35F2.0-320-30
Rising
Описание инфракрасной линзы короткой волны:
Линзы SWIR, также известные как коротковолновые инфракрасные линзы, специально созданы для использования инфракрасного излучения в диапазоне от 800 до 1700 нм, которая известна как инфракрасная область короткой волны. При Rising Optics мы производим первоклассные линзы SWIR, которые обслуживают различные цели, включая биомедицинскую визуализацию, безопасность, противодействие визуализации и инспекцию солнечных батарей.
В различных отраслях SWIR Imaging играет жизненно важную роль в контроле качества и машинном зрении. В отличие от видимого света, он остается не зависящим от его присутствия или отсутствия, что позволяет визуализации через не транспортные материалы, такие как кремний. Способность обнаружить синяки фруктов без инвазивного тестирования или внешнего освещения является лишь одним из многочисленных применений линз SWIR.
Параметры инфракрасной линзы короткой волны:
| Название продукта | Недалеко от волновой инфракрасной линзы |
| Фокусное расстояние | 35 мм |
| F# | 2.0 |
| Изображение диагональ | 12,3 мм |
| Средняя передача | ＞ 80% |
| Циркуляр FOV | (H) 15,6 ° x (V) 12,5 ° x (D) 20 ° |
| Назад расстояние фокусировки | 17,526 мм |
| Назад рабочее расстояние | 13,526 мм |
| Длина фокусировки | 14,55 мм |
| Dimenisons | 32,8 мм / 37,5 мм |
| Тип фокуса | Ручной фокус |
| Ассортимент фокуса | 1 м до бесконечности |
| Тип крепления | C-Mount |
| Детектор | 320x256-30um |
| Масса | 89 г |
| Рабочая температура | -40 ℃ до +80 ℃ |
| Температура хранения | -40 ℃ до +80 ℃ |
| Внешнее покрытие | AR покрытие доступно |
ЧАСТО ЗАДАВАЕМЫЕ ВОПРОСЫ:
Описание инфракрасной линзы короткой волны:
Линзы SWIR, также известные как коротковолновые инфракрасные линзы, специально созданы для использования инфракрасного излучения в диапазоне от 800 до 1700 нм, которая известна как инфракрасная область короткой волны. При Rising Optics мы производим первоклассные линзы SWIR, которые обслуживают различные цели, включая биомедицинскую визуализацию, безопасность, противодействие визуализации и инспекцию солнечных батарей.
В различных отраслях SWIR Imaging играет жизненно важную роль в контроле качества и машинном зрении. В отличие от видимого света, он остается не зависящим от его присутствия или отсутствия, что позволяет визуализации через не транспортные материалы, такие как кремний. Способность обнаружить синяки фруктов без инвазивного тестирования или внешнего освещения является лишь одним из многочисленных применений линз SWIR.
Параметры инфракрасной линзы короткой волны:
| Название продукта | Недалеко от волновой инфракрасной линзы |
| Фокусное расстояние | 35 мм |
| F# | 2.0 |
| Изображение диагональ | 12,3 мм |
| Средняя передача | ＞ 80% |
| Циркуляр FOV | (H) 15,6 ° x (V) 12,5 ° x (D) 20 ° |
| Назад расстояние фокусировки | 17,526 мм |
| Назад рабочее расстояние | 13,526 мм |
| Длина фокусировки | 14,55 мм |
| Dimenisons | 32,8 мм / 37,5 мм |
| Тип фокуса | Ручной фокус |
| Ассортимент фокуса | 1 м до бесконечности |
| Тип крепления | C-Mount |
| Детектор | 320x256-30um |
| Масса | 89 г |
| Рабочая температура | -40 ℃ до +80 ℃ |
| Температура хранения | -40 ℃ до +80 ℃ |
| Внешнее покрытие | AR покрытие доступно |
ЧАСТО ЗАДАВАЕМЫЕ ВОПРОСЫ:
